1月15〜17日、東京ビッグサイト・西展示棟で開催された「第37回エレクトロテストジャパン」に出展し、グラナイトステージ搭載高精度多目的アナライザーシステム「ST3020F」、AOI装置「LST6050 AOI」、ステラアナライザーUシリーズELSTなどを展示しました。多数の方々のご来場ありがとうございました。
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